Надежность электронных устройств. Сложные современные электронные устройства содержат 10е — 107 активных (ламп, транзисторов, диодов) и пассивных (резисторов, конденсаторов, дросселей) элементов. Рост сложности электронных устройств требует повышения надежности элементов схем и электрических соединений между ними, миниатюризации элементов, снижения потребляемой мощности.
Повысить надежность устройства можно при значительном уменьшении числа комплектующих элементов и соединений за счет увеличения выполняемых ими функций при одновременном повышении их надежности работы. При использовании функционально сложных элементов вместо обычных транзисторов, диодов, резисторов, конденсаторов уменьшаются размеры и масса устройств, а также потребляемая мощность и стоимость.
Новые комплектующие изделия созданы на основе элементной интеграции, т. е. объединения в одном сложном миниатюрном функциональном узле ряда простейших элементов (диодов, транзисторов, резисторов и т. п.). Эти изделия, полученные в результате объединения более простых активных и пассивных элементов и соединительных проводов, называют интегральными микросхемами (ИС). В интегральной электронике «проинтегрированы» процессы изготовления деталей и схем и их соединений в общих технологических процессах одного предприятия. В основе интегральной электроники лежит планарная технология, использующая полупроводниковые структуры, тонкие пленки металлов и диэлектриков, физические процессы в твердом теле.
Интегральная микросхема, или просто интегральная схема ИС, — микроэлектронное изделие, с высокой плотностью упаковки электрически соединенных элементов (или элементов и компонентов) и кристаллов, выполняющее функцию преобразования и обработки сигналов. Под элементом ИС понимают такую ее часть, которая выполняет функцию одного простого радиоэлемента (например, резистора, конденсатора, диода, транзистора) и составляет нераздельное целое с кристаллом ИС или ее подложкой, т.
Степени интеграции. В интегральной электронике неделимый эле мент представляет функциональную электронную схему, выполняющую заданные функции. Степень интеграции ИС (т. е. показатель ее сложности) определяется числом содержащихся в ней элементов и компонентов и выражается коэффициентом, равним десятичному логарифму от числа элементов и компонентов N, входящих в ИС: Kи=lgN. В зависимости от значения Kи различают интегральные схемы со степенью интеграции: первой при KИ=1(N<10); второй при Ки=2 (N=11-100); третьей при Kи=3 (N=101-МООО); четвертой при Я„=4 (N= 10014-10000); пятой при Kи=5 (N=10001-НООООО), В соответствии с этим наименованием схемы часто обозначают ИС1, ИС2, ИСЗ, .... В больших интегральных схемах БИС улучшаются показатели электромагнитной совместимости, поскольку уменьшаются длины соединений между элементами, снижается восприимчивость схемных узлов к помехам из-за уменьшения уровня емкостных и индуктивных (перекрестных) наводок.
Плотность упаковки. При выборе элементной базы и построении электронной аппаратуры важна плотность упаковки элементов в ИС, являющаяся конструктивной характеристикой ИС. Плотность упаковки зависит: от размеров подложки, на поверхности или в толще которой формируется схема; от размеров элементов; уровня рассеиваемой мощности и других факторов. Под плотностью упаковки понимают отношение числа элементов и компонентов ИС к ее объему (без учета объема выводов).
С развитием микроэлектронной техники уменьшаются геометрические размеры активных элементов ИС, вследствие чего возрастает плотность упаковки (табл. 138).
Таблица 138
ГОДЫ х |
Площадь элемента, мм2
|
Число транзисторов в кристалле |
1966 |
0,013 — 0,032 |
50 |
1973 |
0,0013 — 0,00032 |
5000 |
1980 |
0,00006 — 0,0002 |
Более 100000 |